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分辨率測試卡

  • 產品型號:
  • 更新時間:2024-05-29

簡要描述:RC-02B分辨率測試卡X射線分辨率測試卡致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

產品詳情
品牌日本JIMA產地進口

JIMA(日本檢測儀器制造商協會)致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,

用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

JIMA RT RC-02B分辨率測試卡封裝在一個防護盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm

芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm

圖案布局:L型

線/空間尺寸: 16種規格圖案,

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

JIMA RT RC-04 X射線分辨率測試卡

JIMA RT RC-05分辨率測試卡


分辨率測試卡


JIMA RT RC-02B分辨率測試卡,X射線分辨率測試卡封裝在一個防護盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm

芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm

圖案布局:T型 (3-10μm)

I 型 (15-50μm)

線/空間尺寸:16種規格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)

15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)


分辨率測試卡

分辨率測試卡


JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡JIMA RT RC-04分辨率測試卡

測試卡封裝在一個防護盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm

芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm

圖案布局:T型

線/空間尺寸:32種規格圖案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,

JIMA分辨率測試卡,JIMA RT RC-02X射線分辨率測試卡

JIMA RT CT-01 分辨率測試卡(專用于三維CT系統分辨率測試)

RT RC-02B 分辨率測試卡封裝在一個防護盒中

圖案布局:T型

線/空間尺寸:5種規格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm




SAG: RT RC-02B,RT RC-02B測試卡,RC-02B測試卡,JIMA RT RC-02B,分辨率測試卡,JIMA X射線分辨率測試卡


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